9812DX 高級(jí)低頻噪聲分析儀為半導(dǎo)體研究提供高精度和高效的噪聲功率譜密度分析和時(shí)域噪聲測(cè)量，用于高級(jí)工藝優(yōu)化，用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證和電路評(píng)估的建模。
閃變?cè)肼暎?/f 噪聲）和隨機(jī)電報(bào)噪聲（RTN 或 RTS）測(cè)量和分析的全部功能

適應(yīng)較寬的阻抗測(cè)量范圍，滿足寬電壓和電流工作條件下對(duì)新材料、新器件和集成電路的各種要求

晶圓級(jí)高性能和寬帶寬測(cè)量，電流噪聲分辨率高達(dá) 10-27A2/赫茲

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理功能，具有易于使用的內(nèi)置測(cè)試應(yīng)用程序庫(kù)和直觀的圖形用戶界面

與 Primarius 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) FS-Pro 配合使用，提供并行測(cè)試框架解決方案，顯著提高測(cè)試效率和吞吐量