FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備。
在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、脈沖式IV測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速波形發(fā)生與釆集以及低頻噪聲測試能力，幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統(tǒng)中完成。

全面而強(qiáng)大的參數(shù)測試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評估進(jìn)程，并可與概倫9812系列噪聲測試系統(tǒng)無縫集成。

釆用工業(yè)通用的PXI模塊化硬件架構(gòu)，系統(tǒng)配置靈活，擴(kuò)展性強(qiáng)。

內(nèi)置專業(yè)測試軟件LabExpress提供豐富的測試預(yù)設(shè)和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能。

LabExpress軟件同時(shí)支持自動(dòng)化量測和并行量測，可進(jìn)一步提升測試效率。

廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測試、器件可靠性等研究領(lǐng)域。